紧凑型低频噪声测试系统
满足各种闪烁噪声和随机电报噪声/信号(RTN/RTS)测试要求。
与概伦FS-Pro半导体参数测试系统搭配共同提供一整套并行测试框架解决方案。
大幅提高测试效率和吞吐量。
内置功能强大的NoiseProPlus软件,支持1/f噪声、RTN噪声测试和数据分析。
多组内建LNA放大器
支持极宽的阻抗匹配范围
典型设备1/f 噪声
60 秒/偏置
与FS-Pro半导体参数测试系统搭配
提供一整套并行测试框架解决方案
品质卓越
性价比高
最大电压和最大电流值
50V和100mA
MOSFET、SOI、FinFET、TFT、HV/LDMOS、BJT/HBT、JFET、二极管、电阻、封装集成电路
先进电路设计
工艺/器件评估
技术开发制程
质量评估和监控
半导体器件研究
噪声特性表征
SPICE模型提取
噪声特性表征