先进低频噪声测试系统
支持闪烁噪声(1/f噪声)和随机电报噪声(RTN或RTS)等高精度高速度频谱分析和测量;
高电压、高电流、高阻抗测量范围,广泛适用于各类材料器件和电路在广泛的工作条件下的噪声测试应用;
晶圆级噪声测试精度和带宽,噪声测试电流精度低至10-27A²/Hz
强大的数据分析和管理能力,内置丰富的测试应用库,操作便捷,直观易用;
支持并行测试架构解决方案以及协同FS-Pro半导体参数测试系统等方式,大幅提高测试效率和吞吐量。
最高DC电流精度:10pA
系统噪声电流精度:<10-27A2/Hz
典型噪声测试速度提高至
一个偏置条件仅需20s
MOSFET, SOI, FinFET, TFT, HV/LDMOS, BJT/HBT, JFET, Diode, Resistor, Packaged IC等器件
支持高精度、高测试吞吐率
并行测试
硬件架构硬件架构全新升级
提升系统集成性
配置触摸屏
直观显示,易于操作
芯片制造工艺研发、
质量评估、品质监控
半导体器件
SPICE模型开发
电路设计
性能优化
半导体物理和
材料研究