标准单元库特征化解决方案
通过智能分析算法来分析、提取单元的ARC和功能。
采用先进的分布式并行架构技术。
内置功能强大的NanoSpice仿真器。
精确、高效的平面工艺和FinFET工艺(支持7nm)单元电路特征仿真与提取,包括时序、功耗及噪声等。
提供友好、易使用的接口,帮助用户缩短产品开发周期。
配备先进的分布式并行架构
比REF工具快2倍
基于单元电路分析算法
自动化完整提取ARC
内置并行的NanoSpice引擎
支持先进的K库模型
支持7nm
FinFET先进工艺
简洁易用的配置和用户接口
内置便捷的benchmark liberty utility工具
支持ARM/X86和SGE/LSF集群
扩容性良好
Planar工艺库特征化
FinFET工艺库特征化
定制化单元库特征化
云计算库特征化