概伦电子测试方案持续助力前沿学术研究
2020-11-18
在微电子、材料、物理等基础研究和应用研究中，半导体参数测试是非常重要的一环，但传统参数测试仪器几乎都为进口产品，往往价格昂贵，软件和测试功能单一，而且缺乏个性化定制。针对参数测试中IV，CV，低频噪声等测试需求，传统的仪器体积大，成本高，在低频噪声测试的场合，需要依靠不同的独立测试设备，连接复杂，使用不便。
概伦电子半导体参数测试系统FS-Pro™，集成高速高精度IV，CV和低频噪声测试于一体，在单台仪器内便可完成所有低频测试。推出三年来，FS-Pro™已被国内60多所大学及研究机构所采用，在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色，其高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足学术科研用户的不同测试需求，大大节省了测试设备的采购开支。尤其在二维材料光电探测器领域及有机探测器研发领域，独特的1/f噪声测试能力可获得器件内部的缺陷参数，更多地获取了器件的深入技术的性能，尤其是在探测率的计算上，考虑到1/f噪声因素在内得出的探测率更为准确。在器件的I-T测试表征上，FS-Pro™SMU出色能力已得到市场验证，高达1us采样率，数据存储容量10万个点，实现了业界SMU做I-T测试的最高指标。它集成了所有常用低频特性测量于一体，工业标准PXI模块化硬件结构，通用的软件平台，内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能，实现即插即用体验，使其成为半导体器件与先进材料研究方面的得力助手。
概伦电子测试产线一直致力于推动半导体相关领域高端学术研究，仅今年已支持9场学术交流活动。
