概伦电子参展DAC 2012获得巨大成功
2012-06-06
中国 北京，2012年6月4-6日，概伦电子在美国San Francisco Moscone Center举办的第49届设计自动化大会（Design Automation Conference，DAC 2012）上成功展示了其在晶体管级统计建模与电路仿真、良率分析设计等方面的解决方案，吸引了近两百位行业专家、客户和同行的参观、访问及咨询，并为来宾举办了十余场产品介绍和演示，获得了热烈的反响和好评。
Process Variation及其引起的良率问题是近年来集成电路行业的一个焦点话题，并随着工艺节点的推进而日益严重，由此对设计流程及建模和设计等方面提出了巨大的挑战。概伦电子拥有SPICE模型技术、先进的全芯片高精度SPICE仿真引擎NanoSpice、和源自于IBM的并行统计算法，其NanoYield良率分析平台首次真正集成了模型、SPICE和经过验证的统计分析算法，从而有可能为设计人员提供更高精度和更高效率的良率分析和优化设计手段。
展会期间，概伦电子通过开放展区和演示区充分展示了其全线产品，包括创新的DFY良率分析和设计平台NanoYield、用于存储器设计的高良率分析技术 、全芯片级高精度SPICE仿真器NanoSpice 和业界十多年的“黄金标准”建模平台BSIMProPlus 。概伦电子以其创新的解决方案得到了与会者的广泛认可和高度赞誉，并通过参展DAC 2012成功展现了其作为DFY技术提供商的实力，成为本次展会的亮点。概伦电子已经拥有众多客户，此次活动进一步开拓了数十家潜在的优质客户，参展取得了巨大成功。
在本次展会上，概伦电子还联合IBM举办了数场专题研讨会，吸引了数十位半导体公司的专家，共同对65nm及以下工艺节点的存储器设计和良率分析展开了深入的讨论。与会专家一致高度评价概伦电子在DFY领域的创新解决方案，同时还表示将与概伦电子深入合作，共同探讨和推动解决先进工艺下的许多共性问题，实现共赢。
DAC设计自动化大会是全球Electronic Design Automation (EDA) 领域中最负盛名的技术会议和展览会，它为IC设计、EDA系统、技术网络和商业环境等各领域提供交流与展示机会，并展示EDA行业最新的技术研究成果。DAC覆盖了复杂芯片系统设计领域涉及的所有话题，从嵌入式系统设计验证乃至物理层验证及测试的全部应用。第49届DAC会议汇集了全球超过两百家顶尖IC设计供应商共同参与。
